Controle Estatístico de Processos Metrológicos – CEP (Gráficos de Controle) e Avaliação do Sistema de Medição – MSA

Data do evento: 09/05/2012

Horário do evento: 8:30 às 17:00 h

Local do evento:

IAL Central – Anfiteatro 2º andar

Av. Dr. Arnaldo, 355

CEP: 01246-902 Cerqueira César   São Paulo -SP

Palestrante: José Carlos Olivieri

Vagas ESGOTADAS!

Programa:

• Garantia da Qualidade de resultados em Laboratórios

• Introdução ao Controle Estatístico de Processos

• Gráficos para Controle

• Gráficos para Controle de Variáveis

• Gráficos para Controle de Atributos

• Variabilidade Adicional

• Capacidade de Processo

• Estimativa de Incerteza via gráfico de controle

Estudo de adequação da medição

Variabilidades:

• Segundo ISO 5725, parte 2

o Desvio Padrão de Repetitividade (Sr)

o Desvio Padrão de Reprodutibilidade (SR)

• Segundo ISO 7525-1977, parte 3

o Desvio Padrão de Repetitividade Interna (Sri)

o Desvio Padrão de Reprodutibilidade entre Operadores, e/ou

o Desvio Padrão de Reprodutibilidade entre Equipamentos